Так уж получилось, что данное явление присутствует при проверке кремния. (И) и арсенид галлия (GaAs) – два наиболее важных материала в печатной плате (печатная плата) и интегральная схема (IC) производственная промышленность.

SWIR-светодиод длины волн имеют высокий уровень пропускания через кремний, начиная примерно с 1050 нм. После этого открытия и очевидной способности просматривать материалы на основе кремния началась разработка высокоточных систем контроля дефектов..

Мощный инструмент для обнаружения множества различных типов дефектов., SWIR-светодиоды и микроскопическая визуализация позволяют провести правильный анализ и найти причину.. Многие неисправности цепи могут быть связаны с обрывом или обрывом цепи.. Виновники таких поломок столь же разнообразны, как и металлические примеси в подложке., электрическое перенапряжение (ЭОС), или несовпадение маскировки в процессе фотолитографии.

Хотя многие дефекты могут сразу же сделать многослойную ИС бесполезной., другие могут стать очевидными только однажды в руках конечного пользователя. Умение находить и идентифицировать эти проблемы может выявить проблемы в производственном процессе.. Это может предотвратить серьезные финансовые потери и простои производства для производителей., а также избежать отзыва потенциально всех устройств, произведенных в период проявления дефекта..